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                      EDX系列x熒光光譜儀

                      EDX系列x熒光光譜儀

                      產品介紹:EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS &amp;amp; WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合 金、貴金屬成份分析.

                      更新時間:2024-01-22

                      產品報價:

                      EDX系列x熒光光譜儀的詳細資料:

                      EDX系列x熒光光譜儀,能量色散X射線熒光光譜儀應用于RoHS & WEEE指令分析、各種金屬膜厚度測量、工業鍍層厚度測量、鹵素指令Cl元素分析、礦石、原材料成份分析等、磁性磁性介質和半導體以及各種合金、貴金屬成份分析.
                      EDX系列x熒光光譜儀主要特點
                      分析元素范圍 S-U

                      分析元素的濃度范圍 2ppm—100%
                      整機穩定性連續8小時測RSD<0.25%
                      ● ROHS/WEEE檢測時間100-120

                      美國進口電制冷Si(Pin)探測器

                      電制冷Si(Pin)探測器 晶體面積15mm2分辨率<155eV
                      全數字脈沖處理器技術

                      優異的峰背比、*的痕量分析靈敏度

                      ● 50KV,50W自防護X-射線管

                      復合濾光片智能切換技術

                      特征:

                      可分析精確分析氯元素和油漆中的鉛

                      集成FP法,Alpha系數法、經驗系數法

                      安全聯動裝置,軟硬結合的輻射設計

                      操作簡單、一鍵式操作

                      智能軟件自動參數設定和選擇濾光片

                       X射線管超溫保護

                      電子冷卻,無需液氮和其它耗材

                      技術規格

                       

                      儀器型號

                      EDX-1800x熒光光譜儀

                      分析原理

                      能量色散X射線熒光分析法

                      分析范圍

                      S(16)-U(92)任意元素

                      檢出下限

                      Cl/Cd/Hg/Br/Cr/Pb≤2 ppm

                      樣品形狀

                      任意大小,任何不規則形狀

                      樣品類型

                      塑膠/金屬/薄膜/粉末/液體等

                      X射線管

                      靶材

                      鉬(Mo)靶

                      管電壓

                      5─50KV

                      管電流

                      1─1000uA

                      探測器

                      美國AMP-TEK Si-PIN探測器,高速脈沖高度分析系統

                      高壓發生器

                      美國SPELLMAN高壓發生器

                      濾光片

                      智能濾光片自動選擇并自動轉換

                      樣品觀察

                      500萬彩色攝像機

                      分析軟件

                      *升級

                      分析方法

                      Alpha系數法(NBS-GSC法)、FP法、標準曲線法

                      符合規范

                      IEC62321、 SNT 2003.4-2006 、SNT 2003.5-2006

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