專注非接觸式光學3D表面測量儀器
提供專業性的解決方案17706131531
當前位置：首頁 > 產品中心 > 德國馬爾Mahr/原NanoFocus > 全自動晶元檢測系統
相關文章
µsprint全自動晶元檢測系統是專門為半導體產業的bump檢測而設計。Z大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。
µsprint全自動晶元檢測系統是專門為半導體產業的bump檢測而設計。Z大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。
µsprint全自動晶元檢測系統是專門為半導體產業的bump檢測而設計。Z大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。
µsprint全自動晶元檢測系統是專門為半導體產業的bump檢測而設計。Z大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。
蘇州曼戈斐全自動晶元檢測系統是專門為半導體產業的bump檢測而設計。Z大能夠自動檢測八寸晶元。bump的高度、直徑、體積、形狀以及平面度都能得到納米級精度的量測。
歡迎來到上海曼戈斐光學技術有限公司網站！
聯系人：干女士
地址：蘇州工業園區星漢街5號騰飛新蘇工業坊B幢6樓13室
郵箱：ganxiafen@megphy.com
傳真：0512-62510650